Number of the records: 1
Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení
Author Tichopádek, Petr, 1974- (Author) Title Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení : zkrácená verze Ph.D. Thesis : obor Fyzikální a materiálové inženýrství = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus / Petr Tichopádek Parallel Title Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus Other corp. Vysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství Issue stat. [Brno : VUTIUM], c2006 Phys.des. 31 s. : il. ; 21 cm ISBN 80-214-3138-5 (brož.) : 60.00 Kč Edition Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis, ISSN 1213-4198 ; sv. 364 Series/heading Vysoké učení technické v Brně. Vědecké spisy. PhD Thesis Note Anglické resumé. Nad názvem: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrstvá, Ústav fyzikálního inženýrství Obsahuje bibliografii Subj. Headings tenké vrstvy * spektrometry * organokřemičité sloučeniny * elipsometry Form, Genre disertace * teze Conspect 681 - Přesná mechanika a přístroje. Hudební nástroje UDC 681.785.3 * 574.1'128 * 681.785.5 * 539.216 * (048.3) * (043.3) Country Czech Republic Language Czech Copy count 1, currently available 1 Owner Kladno SVK Doc. Kind Monographies, maps 
Call number Location Sublocation Info J 237003 Půjčovna literatury depozitář
Number of the records: 1