Number of the records: 1  

Nejistoty měření v metrologických aplikacích - Opakovaná měření a hierarchické experimenty

  1. TitleNejistoty měření v metrologických aplikacích - Opakovaná měření a hierarchické experimenty : ČSN P ISO/TS 21749
    Issue stat.Praha : Český normalizační institut, 2007
    Phys.des.39 s. : il.
    ISBN508.00 Kč
    EditionPředběžná česká technická norma
    NoteTřídicí znak 01 0291
    Obsahuje bibliografii
    Subj. Headings metrologie
    Form, Genre normy
    UDC006.91 * 006.7/.8
    CountryCzech Republic
    LanguageCzech
    Copy count1, currently available 1
    OwnerKladno SVK
    Doc. KindStandards
    Call numberLocationSublocationInfo
    NO 26459Půjčovna literaturydepozitář

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.

Accept allSettingsReject all